Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения
Книга "Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения"
Авторы: Уэйли Жу
Издатель: Просвещение-Союз
Год издания 2016
Страниц: 582
ISBN: 978-5-9963-1110-1
Описание
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных на-нострукгур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. .Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов. . .
Обновлено: 05.11.2026
Характеристики
- Наименование Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения
- Категория Книги/Научно-популярные книги/Физико-математические науки/Физика. Механика
- Авторы Уэйли Жу
- Издатель Просвещение-Союз
- Год издания 2016
- Всего страниц 582
- ISBN 978-5-9963-1110-1
- Способ получения Доставка, самовывоз
- Тип Книга
- Продавец Читай-город
- Актуальность 05.11.2026
Еще в этой категории
Другие интернет-магазины
